Publikationsdetails

Zitat:	J. Franc, E. Belas, R. Grill, A. Toth, Helmut Sitter, P. Moravec, P. Höschl, "Determination of Diffusion Lengths of Minority Carriers in Hg1-xCdxTe by EBIC Method" : Proc. SPIE 3182, Material Science and Material Properties for Infrared Optoelectronics, 1997, J. Franc, E. Belas, R. Grill, A. Toth, H. Sitter, P. Moravec, P. Höschl:Determination of Diffusion Lengths of Minority Carriers in Hg1-xCdxTe by EBIC Method, SPIE Vol. 3182, 207 (1997)
Original Titel:	Determination of Diffusion Lengths of Minority Carriers in Hg1-xCdxTe by EBIC Method
Sprache des Titels:	Englisch
Original Buchtitel:	Proc. SPIE 3182, Material Science and Material Properties for Infrared Optoelectronics
Erscheinungsjahr:	1997
Notiz zum Zitat:	J. Franc, E. Belas, R. Grill, A. Toth, H. Sitter, P. Moravec, P. Höschl:Determination of Diffusion Lengths of Minority Carriers in Hg1-xCdxTe by EBIC Method, SPIE Vol. 3182, 207 (1997)
DOI:	10.1117/12.280429
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in Tagungsband (nicht-referiert)
Autoren:	J. Franc, E. Belas, R. Grill, A. Toth, Helmut Sitter, P. Moravec, P. Höschl
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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