Publikationsdetails

Zitat:	G. Abstreiter, Günther Bauer, K. Brunner, A. Daniel, Vaclav Holy, T. Roch, Julian Stangl, J. Zhu, "Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of buried and free-standing SiGe islands in a SiGe/Si superlattice" , in Physical Review B, 2000, J. Stangl, V. Holy, T. Roch, A. Daniel, G. Bauer, J. Zhu, K. Brunner, G. Abstreiter: Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of buried and free-standing SiGe islands in a SiGe/Si superlattice, Phys. Rev. B 62, 7229-7237 (2000).
Original Titel:	Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of buried and free-standing SiGe islands in a SiGe/Si superlattice
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Physical Review B
Erscheinungsjahr:	2000
Notiz zum Zitat:	J. Stangl, V. Holy, T. Roch, A. Daniel, G. Bauer, J. Zhu, K. Brunner, G. Abstreiter: Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of buried and free-standing SiGe islands in a SiGe/Si superlattice, Phys. Rev. B 62, 7229-7237 (2000).
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	G. Abstreiter, Günther Bauer, K. Brunner, A. Daniel, Vaclav Holy, T. Roch, Julian Stangl, J. Zhu
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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