Structural and optical properties of Si/Si1-xGex wires
Sprache des Titels:
Englisch
Journal:
Thin Solid Films
Erscheinungsjahr:
2000
Notiz zum Zitat:
Y. Zhuang, C. Schelling, J. Stangl, C. Penn, S. Senz, F. Schäffler, T. Roch, A. Daniel, J. Grenzer, U. Pietsch, G. Bauer: Structural and optical properties of Si/Si1-xGex wires, Thin Solid Films 369, 409-413 (2000).