Publikationsdetails

Zitat:	G. Abstreiter, Günther Bauer, K. Brunner, F. Ernst, J. Grim, Vaclav Holy, O. Kienzle, Julian Stangl, J. Zhu, " Structural investigation of Si/SiGe superlattices on vicinal (113) oriented Si " , in Thin Solid Films , 1999, J. Stangl, V. Holy, J. Grim, G. Bauer, J. Zhu, K. Brunner, G. Abstreiter, O. Kienzle, F. Ernst : "Structural investigation of Si/SiGe superlattices on vicinal (113) oriented Si", Thin Solid Films 351 (1999) 1-5, in print.
Original Titel:	Structural investigation of Si/SiGe superlattices on vicinal (113) oriented Si
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Thin Solid Films
Erscheinungsjahr:	1999
Notiz zum Zitat:	J. Stangl, V. Holy, J. Grim, G. Bauer, J. Zhu, K. Brunner, G. Abstreiter, O. Kienzle, F. Ernst : "Structural investigation of Si/SiGe superlattices on vicinal (113) oriented Si", Thin Solid Films 351 (1999) 1-5, in print.
DOI:	10.1016/s0040-6090(99)00478-2
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	G. Abstreiter, Günther Bauer, K. Brunner, F. Ernst, J. Grim, Vaclav Holy, O. Kienzle, Julian Stangl, J. Zhu
Forschungseinheiten:	Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik Abteilung für Halbleiterphysik

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