Publikationsdetails

Zitat:	J. Franc, E. Belas, Pavel Hlidek, A. L. Toth, Helmut Sitter, R. Grill, P. Höschl, P. Moravec, "Characterization of Diffusion Length of Minority Carriers in (CdZn)Te at Temperatures 80 - 300 K" : Proceedings Volume 3890, Fourth International Conference on Material Science and Material Properties for Infrared Optoelectronics, 1999, J. Franc, E. Belas, P. Hlidek, A.L. Toth, H. Sitter, R. Grill, P. Höschl, P. Moravec Characterization of Diffusion Length of Minority Carriers in (CdZn)Te at Temperatures 80 - 300 K SPIE Vol. 3890, 163 (1999)
Original Titel:	Characterization of Diffusion Length of Minority Carriers in (CdZn)Te at Temperatures 80 - 300 K
Sprache des Titels:	Englisch
Original Buchtitel:	Proceedings Volume 3890, Fourth International Conference on Material Science and Material Properties for Infrared Optoelectronics
Erscheinungsjahr:	1999
Notiz zum Zitat:	J. Franc, E. Belas, P. Hlidek, A.L. Toth, H. Sitter, R. Grill, P. Höschl, P. Moravec Characterization of Diffusion Length of Minority Carriers in (CdZn)Te at Temperatures 80 - 300 K SPIE Vol. 3890, 163 (1999)
Anzahl der Seiten:	7
DOI:	10.1117/12.368349
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in Tagungsband (nicht-referiert)
Autoren:	J. Franc, E. Belas, Pavel Hlidek, A. L. Toth, Helmut Sitter, R. Grill, P. Höschl, P. Moravec
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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