Publikationsdetails

Zitat:	, "Synchotron Radiation Excited Glancing Incidence XRF for Depth Profile and Thin Film Analysis of Light Elements" , 1999, P.Kregsamer, Ch. Streli, P. Wobrauschek, H. Gatterbauer, P. Pianetta, L. Palmetshofer, L.L. Brehm Synchotron Radiation Excited Glancing Incidence XRF for Depth Profile and Thin Film Analysis of Light Elements X-Ray Spectrometry 28, 292 (1999)
Original Titel:	Synchotron Radiation Excited Glancing Incidence XRF for Depth Profile and Thin Film Analysis of Light Elements
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	Synchotron Radiation Excited Glancing Incidence XRF for Depth Profile and Thin Film Analysis of Light Elements
Erscheinungsjahr:	1999
Notiz zum Zitat:	P.Kregsamer, Ch. Streli, P. Wobrauschek, H. Gatterbauer, P. Pianetta, L. Palmetshofer, L.L. Brehm Synchotron Radiation Excited Glancing Incidence XRF for Depth Profile and Thin Film Analysis of Light Elements X-Ray Spectrometry 28, 292 (1999)
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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