Publikationsdetails

Zitat:	, "Defect Production in Si by Ion Bombardment under the Influence of Internal Mechanical Strain" , 1996, Yu. Suprun-Belevich, L. Palmetshofer:Defect Production in Si by Ion Bombardment under the Influence of Internal Mechanical Strain, Nucl. Instr. Methods B 115, 557 (1996)
Original Titel:	Defect Production in Si by Ion Bombardment under the Influence of Internal Mechanical Strain
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	Defect Production in Si by Ion Bombardment under the Influence of Internal Mechanical Strain
Erscheinungsjahr:	1996
Notiz zum Zitat:	Yu. Suprun-Belevich, L. Palmetshofer:Defect Production in Si by Ion Bombardment under the Influence of Internal Mechanical Strain, Nucl. Instr. Methods B 115, 557 (1996)
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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