Publikationsdetails

Zitat:	Kurt Hingerl, David Stifter, Helmut Sitter, Alberta Bonanni, "Zerstörungsfreie Messung dünner Schichten mit polarisationsoptischen Methoden" , in e&i Elektrotechnik und Informationstechnik, Vol. 116, Seite(n) 315, 1999
Original Titel:	Zerstörungsfreie Messung dünner Schichten mit polarisationsoptischen Methoden
Sprache des Titels:	Deutsch
Journal:	e&i Elektrotechnik und Informationstechnik
Volume:	116
Seitenreferenz:	315
Erscheinungsjahr:	1999
DOI:	10.1007/BF03159024
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Kurt Hingerl, David Stifter, Helmut Sitter, Alberta Bonanni
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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