Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, A. A. Darhuber, N. Darowski, Vaclav Holy, D. Lübbert, P. Mikulik, U. Pietsch, Friedrich Schäffler, Julian Stangl, Stefan Zerlauth, Y. Zhuang, "Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high-resolution x-ray diffraction and grazing incidence diffraction" , in Journal of Physics D: Applied Physics, 1999, J. Phys.D:Appl.Phys. 32, A224-A229 (1999); ISSN-No. 0022-3727
Original Titel:	Strain relaxation in periodic arrays of Si/SiGe quantum wires determined by coplanar high-resolution x-ray diffraction and grazing incidence diffraction
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Journal of Physics D: Applied Physics
Erscheinungsjahr:	1999
Notiz zum Zitat:	J. Phys.D:Appl.Phys. 32, A224-A229 (1999); ISSN-No. 0022-3727
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, A. A. Darhuber, N. Darowski, Vaclav Holy, D. Lübbert, P. Mikulik, U. Pietsch, Friedrich Schäffler, Julian Stangl, Stefan Zerlauth, Y. Zhuang
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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