Publikationsdetails

Zitat:	Gunther Springholz, ""Growth and In Situ Scanning Tunneling Microscopy of IV-VI Semiconductors"" , 1998, G. Springholz: "Growth and In Situ Scanning Tunneling Microscopy of IV-VI Semiconductors", in: Narrow Gap Semiconductors (Eds. S.C. Shen, D.Y. Tang, G.Z. Zheng, G. Bauer) 11, (1998)
Original Titel:	"Growth and In Situ Scanning Tunneling Microscopy of IV-VI Semiconductors"
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	Growth and In Situ Scanning Tunneling Microscopy of IV-VI Semiconductors
Erscheinungsjahr:	1998
Notiz zum Zitat:	G. Springholz: "Growth and In Situ Scanning Tunneling Microscopy of IV-VI Semiconductors", in: Narrow Gap Semiconductors (Eds. S.C. Shen, D.Y. Tang, G.Z. Zheng, G. Bauer) 11, (1998)
Anzahl der Seiten:	0
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Gunther Springholz
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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