Thomas Ebner, H.-J. Herzog, R. Sauer, Friedrich Schäffler, K. Thonke,
""Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon""
, 1998, T. Ebner, K. Thonke, R. Sauer, F. Sch
ffler, H.-J. Herzog: "Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon", Phys.Rev. B, 57, 15448-15453 (1998)
Original Titel:
"Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon"
Sprache des Titels:
Englisch
Englischer Titel:
Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon
Erscheinungsjahr:
1998
Notiz zum Zitat:
T. Ebner, K. Thonke, R. Sauer, F. Sch
ffler, H.-J. Herzog: "Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon", Phys.Rev. B, 57, 15448-15453 (1998)
Anzahl der Seiten:
0
Publikationstyp:
Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift