Publikationsdetails

Zitat:	Thomas Ebner, H.-J. Herzog, R. Sauer, Friedrich Schäffler, K. Thonke, "Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon" , in Physical Review B, 1998, T. Ebner, K. Thonke, R. Sauer, F. Sch ffler, H.-J. Herzog: "Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon", Phys.Rev. B, 57, 15448-15453 (1998)
Original Titel:	Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Physical Review B
Erscheinungsjahr:	1998
Notiz zum Zitat:	T. Ebner, K. Thonke, R. Sauer, F. Sch ffler, H.-J. Herzog: "Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon", Phys.Rev. B, 57, 15448-15453 (1998)
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Thomas Ebner, H.-J. Herzog, R. Sauer, Friedrich Schäffler, K. Thonke
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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