JKU Linz  
 
 


Publikationsdetails

Zitat: Thomas Ebner, H.-J. Herzog, R. Sauer, Friedrich Schäffler, K. Thonke, ""Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon"" , 1998,
T. Ebner, K. Thonke, R. Sauer, F. Sch ffler, H.-J. Herzog: "Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon", Phys.Rev. B, 57, 15448-15453 (1998)
Original Titel: "Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon"
Sprache des Titels: Englisch
Englischer Titel: Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon
Erscheinungsjahr: 1998
Notiz zum Zitat: T. Ebner, K. Thonke, R. Sauer, F. Sch ffler, H.-J. Herzog: "Electroreflectance Spectroscopy of Strained Si 1-xGex Layers on Silicon", Phys.Rev. B, 57, 15448-15453 (1998)
Anzahl der Seiten: 0
Publikationstyp: Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren: Thomas Ebner, H.-J. Herzog, R. Sauer, Friedrich Schäffler, K. Thonke
Forschungseinheiten: Abteilung für Halbleiterphysik
Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik
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