Publikationsdetails

Zitat:	G. Abstreiter, Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, P. Schittenhelm, "Structural characterization of self-organised semiconductor dots by x-ray methods" , in Phantoms Newsletter, 1997, A.A. Darhuber, V. Holy, G. Bauer, P. Schittenhelm, G. Abstreiter: "Structural characterization of self-organised semiconductor dots by x-ray methods", Phantoms Newsletter No. 13, 1-5 (1997)
Original Titel:	Structural characterization of self-organised semiconductor dots by x-ray methods
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Phantoms Newsletter
Erscheinungsjahr:	1997
Notiz zum Zitat:	A.A. Darhuber, V. Holy, G. Bauer, P. Schittenhelm, G. Abstreiter: "Structural characterization of self-organised semiconductor dots by x-ray methods", Phantoms Newsletter No. 13, 1-5 (1997)
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	G. Abstreiter, Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, P. Schittenhelm
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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