Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, D. Bimberg, A. A. Darhuber, Marius Grundmann, Vaclav Holy, P.S. Kop'ev, A.O. Kosogov, A. Krost, Julian Stangl, V.M. Ustinov, Peter Werner, "Structural characterization of self-assembled quantum dot structures by x-ray diffraction techniques" , in Thin Solid Films , 1997, ISSN: 0040-6090, A.A. Darhuber, J. Stangl, V. Holy, G. Bauer, A. Krost, M. Grundmann, D. Bimberg, V.M. Ustinov, P.S. Kop'ev, A.O. Kosogov, P. Werner: "Structural characterization of self-assembled quantum dot structures by x-ray diffraction techniques", Thin Solid Films, 306, 198-204 (1997), ISSN-Number 0040-6090
Original Titel:	Structural characterization of self-assembled quantum dot structures by x-ray diffraction techniques
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Thin Solid Films
Erscheinungsjahr:	1997
Notiz zum Zitat:	A.A. Darhuber, J. Stangl, V. Holy, G. Bauer, A. Krost, M. Grundmann, D. Bimberg, V.M. Ustinov, P.S. Kop'ev, A.O. Kosogov, P. Werner: "Structural characterization of self-assembled quantum dot structures by x-ray diffraction techniques", Thin Solid Films, 306, 198-204 (1997), ISSN-Number 0040-6090
ISSN:	0040-6090
DOI:	10.1016/s0040-6090(97)00097-7
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, D. Bimberg, A. A. Darhuber, Marius Grundmann, Vaclav Holy, P.S. Kop'ev, A.O. Kosogov, A. Krost, Julian Stangl, V.M. Ustinov, Peter Werner
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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