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Publikationsdetails

Zitat: Günther Bauer, Vaclav Holy, Gunther Springholz, "Scanning-tunneling-microscopy observation of stress-driven surface diffusion due to localized strain fields of misfit dislocations in heteroepitaxy" , in Physical Review B , 1996, ISSN: 0163-1829,
G. Springholz, G. Bauer, V. Holy: "Scanning-tunneling-microscopy observation of stress-driven surface diffusion due to localized strain fields of misfit dislocations in heteroepitaxy", Phys. Rev. B 54, 4500-4503 (1996), ISSN-Number 0163-1829
Original Titel: Scanning-tunneling-microscopy observation of stress-driven surface diffusion due to localized strain fields of misfit dislocations in heteroepitaxy
Sprache des Titels: Englisch
Journal: Physical Review B
Erscheinungsjahr: 1996
Notiz zum Zitat: G. Springholz, G. Bauer, V. Holy: "Scanning-tunneling-microscopy observation of stress-driven surface diffusion due to localized strain fields of misfit dislocations in heteroepitaxy", Phys. Rev. B 54, 4500-4503 (1996), ISSN-Number 0163-1829
ISSN: 0163-1829
DOI: 10.1103/physrevb.54.4500
Publikationstyp: Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren: Günther Bauer, Vaclav Holy, Gunther Springholz
Forschungseinheiten: Abteilung für Halbleiterphysik
Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik
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