Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, Friedrich Schäffler, Julian Stangl, Stefan Zerlauth, "MBE growth and structural characterization of Si1-yCy/Si1-xGex superlattices" , in Journal of Crystal Growth, 1997, S. Zerlauth, J. Stangl, A.A. Darhuber, V. Holy, G. Bauer, F. Sch ffler: "MBE growth and structural characterization of Si1-yCy/Si1-xGex superlattices", J. Crystal Growth 175/176, 459-464 (1997), ISSN-Number 0022-0248
Original Titel:	MBE growth and structural characterization of Si1-yCy/Si1-xGex superlattices
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Journal of Crystal Growth
Erscheinungsjahr:	1997
Notiz zum Zitat:	S. Zerlauth, J. Stangl, A.A. Darhuber, V. Holy, G. Bauer, F. Sch ffler: "MBE growth and structural characterization of Si1-yCy/Si1-xGex superlattices", J. Crystal Growth 175/176, 459-464 (1997), ISSN-Number 0022-0248
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, Friedrich Schäffler, Julian Stangl, Stefan Zerlauth
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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