Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, Friedrich Schäffler, Julian Stangl, Stefan Zerlauth, "Interface roughness in pseudomorphic Si1-xGex/Si1-yCy superlattices" : Proc. 23rd International Conference on the Physics of Semiconductors, Berlin, Germany, 1996, J. Stangl, A.A. Darhuber, V. Holy, S. Zerlauth, F. Sch ffler, G. Bauer: "Interface roughness in pseudomorphic Si1-xGex/Si1-yCy superlattices", Proc. 23rd International Conference on the Physics of Semiconductors, Berlin, Germany, July 21-26, 1996, World Scientific Publishing, Singapore 1996, p. 1695-1698
Original Titel:	Interface roughness in pseudomorphic Si1-xGex/Si1-yCy superlattices
Sprache des Titels:	Englisch
Original Buchtitel:	Proc. 23rd International Conference on the Physics of Semiconductors, Berlin, Germany
Erscheinungsjahr:	1996
Notiz zum Zitat:	J. Stangl, A.A. Darhuber, V. Holy, S. Zerlauth, F. Sch ffler, G. Bauer: "Interface roughness in pseudomorphic Si1-xGex/Si1-yCy superlattices", Proc. 23rd International Conference on the Physics of Semiconductors, Berlin, Germany, July 21-26, 1996, World Scientific Publishing, Singapore 1996, p. 1695-1698
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in Tagungsband (referiert)
Autoren:	Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, Friedrich Schäffler, Julian Stangl, Stefan Zerlauth
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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