Publikationsdetails

Zitat:	G. Abstreiter, Günther Bauer, Thomas Fromherz, Manfred Helm, P. Kruck, J. Nützel, "Medium-wavelength, normal incidence, p-type Si/SiGe quantum well infrared photodetector with background limited performance up to 85 K" , in Applied Physics Letters, 1996, ISSN: 0003-6951, P. Kruck, M. Helm, T. Fromherz, G. Bauer, J.F. Nützel, G. Abstreiter: "Medium-wavelength, normal incidence, p-type Si/SiGe quantum well infrared photodetector with background limited performance up to 85 K", Appl. Phys. Lett. 69, 3372-3374 (1996), ISSN-Number 0003-6951
Original Titel:	Medium-wavelength, normal incidence, p-type Si/SiGe quantum well infrared photodetector with background limited performance up to 85 K
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Applied Physics Letters
Erscheinungsjahr:	1996
Notiz zum Zitat:	P. Kruck, M. Helm, T. Fromherz, G. Bauer, J.F. Nützel, G. Abstreiter: "Medium-wavelength, normal incidence, p-type Si/SiGe quantum well infrared photodetector with background limited performance up to 85 K", Appl. Phys. Lett. 69, 3372-3374 (1996), ISSN-Number 0003-6951
ISSN:	0003-6951
DOI:	10.1063/1.117263
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	G. Abstreiter, Günther Bauer, Thomas Fromherz, Manfred Helm, P. Kruck, J. Nützel
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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