Publikationsdetails

Zitat:	G. Abstreiter, Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, J. Nützel, Julian Stangl, "X-ray reflectivity reciprocal space mapping of strained SiGe/Si superlattices" , in Il Nuovo Cimento, 1997, ISSN: 0392-6737, V. Holy, A.A. Darhuber, J. Stangl, G. Bauer, J.F. Nützel, G. Abstreiter: "X-ray reflectivity reciprocal space mapping of strained SiGe/Si superlattices", Il Nuovo Cimento, 19 D, 419-428 (1997) ISSN-Number 0392-6737
Original Titel:	X-ray reflectivity reciprocal space mapping of strained SiGe/Si superlattices
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Il Nuovo Cimento
Erscheinungsjahr:	1997
Notiz zum Zitat:	V. Holy, A.A. Darhuber, J. Stangl, G. Bauer, J.F. Nützel, G. Abstreiter: "X-ray reflectivity reciprocal space mapping of strained SiGe/Si superlattices", Il Nuovo Cimento, 19 D, 419-428 (1997) ISSN-Number 0392-6737
ISSN:	0392-6737
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	G. Abstreiter, Günther Bauer, A. A. Darhuber, Vaclav Holy, J. Nützel, Julian Stangl
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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