Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, H. Kibbel, E. Koppensteiner, K. Lischka, W. Plotz, H. Presting, ""An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures"" , 1995, ISBN: 0268-1242, W.M. Plotz, E. Koppensteiner, H. Kibbel, H. Presting, G. Bauer, K. Lischka: "An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures", Semicond. Sci. Technol. 10, 1614 (1995), ISSN-Number 0268-1242
Original Titel:	"An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures"
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures
Erscheinungsjahr:	1995
Notiz zum Zitat:	W.M. Plotz, E. Koppensteiner, H. Kibbel, H. Presting, G. Bauer, K. Lischka: "An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures", Semicond. Sci. Technol. 10, 1614 (1995), ISSN-Number 0268-1242
ISBN:	0268-1242
Anzahl der Seiten:	0
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, H. Kibbel, E. Koppensteiner, K. Lischka, W. Plotz, H. Presting
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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