Günther Bauer, H. Kibbel, E. Koppensteiner, K. Lischka, W. Plotz, H. Presting,
""An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures""
, 1995, ISBN: 0268-1242, W.M. Plotz, E. Koppensteiner, H. Kibbel, H. Presting, G. Bauer, K. Lischka: "An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures", Semicond. Sci. Technol. 10, 1614 (1995), ISSN-Number 0268-1242
Original Titel:
"An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures"
Sprache des Titels:
Englisch
Englischer Titel:
An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures
Erscheinungsjahr:
1995
Notiz zum Zitat:
W.M. Plotz, E. Koppensteiner, H. Kibbel, H. Presting, G. Bauer, K. Lischka: "An investigation of x-ray reflectivity and -diffraction from electroluminescent short period Si-Ge superlattice structures", Semicond. Sci. Technol. 10, 1614 (1995), ISSN-Number 0268-1242
ISBN:
0268-1242
Anzahl der Seiten:
0
Publikationstyp:
Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift