Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, C. Pichler, Gunther Springholz, "A comparison of experimental resolution for critical thickness determination by UHV-STM, x-ray diffraction and in situ RHEED" , in Semiconductor Heteroepitaxy: Growth, Characterization and Device Applications, 1995, C. Pichler, G. Springholz, G. Bauer: "A comparison of experimental resolution for critical thickness determination by UHV-STM, x-ray diffraction and in situ RHEED", In: "Semiconductor Heteroepitaxy: Growth, Characterization and Device Applications", eds.: B. Gil, R.-L. Aulombard. World Scientific Publishing, Singapore 1995, p. 222.
Original Titel:	A comparison of experimental resolution for critical thickness determination by UHV-STM, x-ray diffraction and in situ RHEED
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Semiconductor Heteroepitaxy: Growth, Characterization and Device Applications
Erscheinungsjahr:	1995
Notiz zum Zitat:	C. Pichler, G. Springholz, G. Bauer: "A comparison of experimental resolution for critical thickness determination by UHV-STM, x-ray diffraction and in situ RHEED", In: "Semiconductor Heteroepitaxy: Growth, Characterization and Device Applications", eds.: B. Gil, R.-L. Aulombard. World Scientific Publishing, Singapore 1995, p. 222.
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, C. Pichler, Gunther Springholz
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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