Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, E.A. Fitzgerald, Vaclav Holy, Ewald Koppensteiner, A. Schuh, G.P. Watson, "Determination of threading dislocation density in hetero-epitaxial layers by diffuse x-ray scattering" , in Journal of Physics D: Applied Physics, 1995, ISSN: 0022-3727, E. Koppensteiner, A. Schuh, G. Bauer, V. Holy, G.P. Watson, E.A. Fitzgerald: "Determination of threading dislocation density in hetero-epitaxial layers by diffuse x-ray scattering", J. Phys. D: Appl. Phys. 28, A 114 (1995), ISSN-Number 0022-3727
Original Titel:	Determination of threading dislocation density in hetero-epitaxial layers by diffuse x-ray scattering
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Journal of Physics D: Applied Physics
Erscheinungsjahr:	1995
Notiz zum Zitat:	E. Koppensteiner, A. Schuh, G. Bauer, V. Holy, G.P. Watson, E.A. Fitzgerald: "Determination of threading dislocation density in hetero-epitaxial layers by diffuse x-ray scattering", J. Phys. D: Appl. Phys. 28, A 114 (1995), ISSN-Number 0022-3727
ISSN:	0022-3727
DOI:	10.1088/0022-3727/28/4a/022
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, E.A. Fitzgerald, Vaclav Holy, Ewald Koppensteiner, A. Schuh, G.P. Watson
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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