Publikationsdetails

Zitat:	Eduardo Abramof, Vaclav Holy, Ewald Koppensteiner, J. Kubena, K. Lischka, A. Pesek, "X-ray double and triple crystal diffractometry of mosaic structure in heteroepitaxial layers" , in Journal of Applied Physics, 1993, ISSN: 0021-8979, V. Holy, J. Kubena, E. Abramof, K. Lischka, A. Pesek, E. Koppensteiner: "X-ray double and triple crystal diffractometry of mosaic structure in heteroepitaxial layers", J. Appl. Phys. 74, 1736 (1993) ISSN-Number 0021-8979
Original Titel:	X-ray double and triple crystal diffractometry of mosaic structure in heteroepitaxial layers
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Journal of Applied Physics
Erscheinungsjahr:	1993
Notiz zum Zitat:	V. Holy, J. Kubena, E. Abramof, K. Lischka, A. Pesek, E. Koppensteiner: "X-ray double and triple crystal diffractometry of mosaic structure in heteroepitaxial layers", J. Appl. Phys. 74, 1736 (1993) ISSN-Number 0021-8979
ISSN:	0021-8979
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Eduardo Abramof, Vaclav Holy, Ewald Koppensteiner, J. Kubena, K. Lischka, A. Pesek
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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