Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, Gerhard Brunthaler, A. A. Darhuber, W. Faschinger, Ewald Koppensteiner, H. Straub, "Triple axis x-ray investigations of semiconductor surface corrugations" , in Journal of Applied Physics, 1994, ISSN: 0021-8979, A.A. Darhuber, E. Koppensteiner, H. Straub, G. Brunthaler, W. Faschinger, G. Bauer: "Triple axis x-ray investigations of semiconductor surface corrugations", J. Appl. Phys. 76, 7816 (1994), ISSN-Number 0021-8979
Original Titel:	Triple axis x-ray investigations of semiconductor surface corrugations
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Journal of Applied Physics
Erscheinungsjahr:	1994
Notiz zum Zitat:	A.A. Darhuber, E. Koppensteiner, H. Straub, G. Brunthaler, W. Faschinger, G. Bauer: "Triple axis x-ray investigations of semiconductor surface corrugations", J. Appl. Phys. 76, 7816 (1994), ISSN-Number 0021-8979
ISSN:	0021-8979
DOI:	10.1063/1.357915
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, Gerhard Brunthaler, A. A. Darhuber, W. Faschinger, Ewald Koppensteiner, H. Straub
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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