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Publikationsdetails

Zitat: Günther Bauer, Vaclav Holy, E. Kasper, Ewald Koppensteiner, "High-resolution x-ray triple axis diffractometry of short period SimGen superlattices" , in Japanese Journal of Applied Physics, 1994, ISSN: 0021-4922,
E. Koppensteiner, G. Bauer, V. Holy, E. Kasper: "High-resolution x-ray triple axis diffractometry of short period SimGen superlattices", Jap. J. Appl. Phys. 33, 2322 (1994), ISSN-Number 0021-4922
Original Titel: High-resolution x-ray triple axis diffractometry of short period SimGen superlattices
Sprache des Titels: Englisch
Journal: Japanese Journal of Applied Physics
Erscheinungsjahr: 1994
Notiz zum Zitat: E. Koppensteiner, G. Bauer, V. Holy, E. Kasper: "High-resolution x-ray triple axis diffractometry of short period SimGen superlattices", Jap. J. Appl. Phys. 33, 2322 (1994), ISSN-Number 0021-4922
ISSN: 0021-4922
DOI: 10.7567/ssdm.1993.lc-4
Publikationstyp: Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren: Günther Bauer, Vaclav Holy, E. Kasper, Ewald Koppensteiner
Forschungseinheiten: Abteilung für Halbleiterphysik
Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik
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