Publikationsdetails

Zitat:	J. Böhrer, Günther Bauer, A. Krost, R. Roehle, "Strain distribution in InP/InGaAs superlattice structure determined by high resolution x-ray diffraction" , in Applied Physics Letters, 1994, ISSN: 0003-6951, A. Krost, J. Böhrer, R. Roehle, G. Bauer: "Strain distribution in InP/InGaAs superlattice structure determined by high resolution x-ray diffraction", Appl. Phys. Lett. 64, 469 (1994), ISSN-Number 0003-6951
Original Titel:	Strain distribution in InP/InGaAs superlattice structure determined by high resolution x-ray diffraction
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Applied Physics Letters
Erscheinungsjahr:	1994
Notiz zum Zitat:	A. Krost, J. Böhrer, R. Roehle, G. Bauer: "Strain distribution in InP/InGaAs superlattice structure determined by high resolution x-ray diffraction", Appl. Phys. Lett. 64, 469 (1994), ISSN-Number 0003-6951
ISSN:	0003-6951
DOI:	10.1063/1.111132
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	J. Böhrer, Günther Bauer, A. Krost, R. Roehle
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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