Publikationsdetails

Zitat:	Werner Ahrer, N. Frank, Vaclav Holy, W.V.D. Hoogenhof, K. Lischka, W. Plotz, C. Schiller, "Characterization of semiconductor surfaces and interfaces by x-ray reflectivity measurements" , in Materials Science Forum, 1994, W. Plotz, V. Holy, W.V.D. Hoogenhof, W. Ahrer, N. Frank, C. Schiller, K. Lischka: "Characterization of semiconductor surfaces and interfaces by x-ray reflectivity measurements", 17th International Conference on Defects in Semiconductors, Gmunden, Austria 1993; Materials Science Forum 143-147, 561 (1994), Trans Tech Publications, Switzerland.
Original Titel:	Characterization of semiconductor surfaces and interfaces by x-ray reflectivity measurements
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Materials Science Forum
Erscheinungsjahr:	1994
Notiz zum Zitat:	W. Plotz, V. Holy, W.V.D. Hoogenhof, W. Ahrer, N. Frank, C. Schiller, K. Lischka: "Characterization of semiconductor surfaces and interfaces by x-ray reflectivity measurements", 17th International Conference on Defects in Semiconductors, Gmunden, Austria 1993; Materials Science Forum 143-147, 561 (1994), Trans Tech Publications, Switzerland.
DOI:	10.4028/www.scientific.net/msf.143-147.561
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Werner Ahrer, N. Frank, Vaclav Holy, W.V.D. Hoogenhof, K. Lischka, W. Plotz, C. Schiller
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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