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Publikationsdetails

Zitat: Günther Bauer, Ewald Koppensteiner, J. H. Li, "X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures" , in Journal of Crystal Growth, 1995, ISSN: 0022-0248,
G. Bauer, J.H. Li, E. Koppensteiner: "X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures", J. Crystal Growth 157, 61 (1995), ISSN-Number 0022-0248
Original Titel: X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures
Sprache des Titels: Englisch
Journal: Journal of Crystal Growth
Erscheinungsjahr: 1995
Notiz zum Zitat: G. Bauer, J.H. Li, E. Koppensteiner: "X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures", J. Crystal Growth 157, 61 (1995), ISSN-Number 0022-0248
ISSN: 0022-0248
Publikationstyp: Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren: Günther Bauer, Ewald Koppensteiner, J. H. Li
Forschungseinheiten: Abteilung für Halbleiterphysik
Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik
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