Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, E. Koppensteiner, J. H. Li, ""X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures"" , 1995, ISBN: 0022-0248, G. Bauer, J.H. Li, E. Koppensteiner: "X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures", J. Crystal Growth 157, 61 (1995), ISSN-Number 0022-0248
Original Titel:	"X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures"
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures
Erscheinungsjahr:	1995
Notiz zum Zitat:	G. Bauer, J.H. Li, E. Koppensteiner: "X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures", J. Crystal Growth 157, 61 (1995), ISSN-Number 0022-0248
ISBN:	0022-0248
Anzahl der Seiten:	0
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, E. Koppensteiner, J. H. Li
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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