Günther Bauer, E. Koppensteiner, J. H. Li,
""X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures""
, 1995, ISBN: 0022-0248, G. Bauer, J.H. Li, E. Koppensteiner: "X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures", J. Crystal Growth 157, 61 (1995), ISSN-Number 0022-0248
Original Titel:
"X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures"
Sprache des Titels:
Englisch
Englischer Titel:
X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures
Erscheinungsjahr:
1995
Notiz zum Zitat:
G. Bauer, J.H. Li, E. Koppensteiner: "X-ray reciprocal space mapping of Si/Si1-xGex heterostructures", J. Crystal Growth 157, 61 (1995), ISSN-Number 0022-0248
ISBN:
0022-0248
Anzahl der Seiten:
0
Publikationstyp:
Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift