Sven Lanzerstorfer,
"Er-dotierte Materialien für optische und optoelektronische Anwendungen im Infrarot-Bereich bei einer Wellenlänge von 1.54µm"
, 2-1999, S. Lanzerstorfer: Charakterisierung von Erbium-dotiertem Silizium, Dissertation Universität Linz (1999)
Original Titel:
Er-dotierte Materialien für optische und optoelektronische Anwendungen im Infrarot-Bereich bei einer Wellenlänge von 1.54µm
Sprache des Titels:
Deutsch
Erscheinungsmonat:
2
Erscheinungsjahr:
1999
Notiz zum Zitat:
S. Lanzerstorfer: Charakterisierung von Erbium-dotiertem Silizium, Dissertation Universität Linz (1999)