G. Hendorfer, Wolfgang Jantsch, W. Helzel, J. H. Li, Z. Wilamowski, T. Widmer, D. Schikora, K. Lischka,
"Strain Characterization of Hg1-xFexSe-Layers by Electron Spin Resonance"
, in Materials Science Forum, Vol. 196-201, Seite(n) 561-566, 1995, ISSN: 1662-9752, G. Hendorfer, W. Jantsch, W. Helzel, J. Li, Z. Wilamowski, T. Widmer, D. Schikora, K. Lischka: Strain Characterization of HgFeSe Layers by Electron Spin Resonance; Mat. Sci. Forum 196-201, 561 (1995)
Original Titel:
Strain Characterization of Hg1-xFexSe-Layers by Electron Spin Resonance
Sprache des Titels:
Englisch
Journal:
Materials Science Forum
Volume:
196-201
Seitenreferenz:
561-566
Erscheinungsjahr:
1995
Notiz zum Zitat:
G. Hendorfer, W. Jantsch, W. Helzel, J. Li, Z. Wilamowski, T. Widmer, D. Schikora, K. Lischka: Strain Characterization of HgFeSe Layers by Electron Spin Resonance; Mat. Sci. Forum 196-201, 561 (1995)