Publikationsdetails

Zitat:	, "Strain Characterization of HgFeSe Layers by Electron Spin Resonance" , 1995, G. Hendorfer, W. Jantsch, W. Helzel, J. Li, Z. Wilamowski, T. Widmer, D. Schikora, K. Lischka: Strain Characterization of HgFeSe Layers by Electron Spin Resonance; Mat. Sci. Forum 196-201, 561 (1995)
Original Titel:	Strain Characterization of HgFeSe Layers by Electron Spin Resonance
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	Strain Characterization of HgFeSe Layers by Electron Spin Resonance
Erscheinungsjahr:	1995
Notiz zum Zitat:	G. Hendorfer, W. Jantsch, W. Helzel, J. Li, Z. Wilamowski, T. Widmer, D. Schikora, K. Lischka: Strain Characterization of HgFeSe Layers by Electron Spin Resonance; Mat. Sci. Forum 196-201, 561 (1995)
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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