Friedrich Schäffler, M. M. Rzaev, M. G. Mil'vidski, T. Yugova,
"Thermally stimulated relaxation of misfit strains in Si_{1-x}Ge_{x}/Si(100) heterostructures with different buffer layers"
, in Crystallography Reports, Vol. 50, Seite(n) 1020-1026, 2005, ISSN: 1562-689X
Original Titel:
Thermally stimulated relaxation of misfit strains in Si_{1-x}Ge_{x}/Si(100) heterostructures with different buffer layers
Sprache des Titels:
Englisch
Journal:
Crystallography Reports
Volume:
50
Seitenreferenz:
1020-1026
Erscheinungsjahr:
2005
ISSN:
1562-689X
Anzahl der Seiten:
7
Publikationstyp:
Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Forschungs-