Publikationsdetails

Zitat:	Vaclav Holy, S. Danis, O. Ambacher, Günther Bauer, Zhenyang Zhong, "High-resolution diffuse x-ray scattering from threading dislocations in heteroepitaxial layers" , in Applied Physics Letters, Vol. 85, Nummer 15, Seite(n) 3065, 10-2004, ISSN: 0003-6951
Original Titel:	High-resolution diffuse x-ray scattering from threading dislocations in heteroepitaxial layers
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Applied Physics Letters
Volume:	85
Number:	15
Seitenreferenz:	3065
Erscheinungsmonat:	10
Erscheinungsjahr:	2004
ISSN:	0003-6951
Anzahl der Seiten:	3
DOI:	10.1063/1.1806279
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Vaclav Holy, S. Danis, O. Ambacher, Günther Bauer, Zhenyang Zhong
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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