Michael Mühlberger, Friedrich Schäffler,
"Two wave x-ray optical diagnostics of GeSi/Si modulation doped heterostructures"
, in Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures, Vol. 13, Nummer 2-4, Seite(n) 1063, 2002, ISSN: 1386-9477, A.G. Touryanski, I.V. Pirshin, M.M. Rzaev, M. Mühlberger, F. Schäffler: Two wave x-ray optical diagnostics of GeSi/Si modulation doped heterostructures, Physica E 13, 1063 (2002).
Original Titel:
Two wave x-ray optical diagnostics of GeSi/Si modulation doped heterostructures
Sprache des Titels:
Englisch
Journal:
Physica E: Low-dimensional Systems and Nanostructures
Volume:
13
Number:
2-4
Seitenreferenz:
1063
Erscheinungsjahr:
2002
Notiz zum Zitat:
A.G. Touryanski, I.V. Pirshin, M.M. Rzaev, M. Mühlberger, F. Schäffler: Two wave x-ray optical diagnostics of GeSi/Si modulation doped heterostructures, Physica E 13, 1063 (2002).
ISSN:
1386-9477
Publikationstyp:
Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Forschungs-