T. Roch, Mojmir Meduna, Julian Stangl, Anke Hesse, Rainer T. Lechner, Günther Bauer, G. Dehlinger, L. Diehl, U. Gennser, E. Müller, Detlev Grützmacher,
"Interface roughness in SiGe quantum-cascade structures from x-ray reflectivity studies"
, in Journal of Applied Physics, Vol. 91, Nummer 11, Seite(n) 8974?8978, 6-2002, T. Roch, M. Meduna, J. Stangl, A. Hesse, R. Lechner, G. Bauer, G. Dehlinger, L. Diehl, U. Gennser, E. Müller, D. Grützmacher: Interface roughness in SiGe quantum-cascade structures from x-ray reflectivity studies, J. Appl. Phys. 91, 8974-8978 (2002).
Original Titel:
Interface roughness in SiGe quantum-cascade structures from x-ray reflectivity studies
Sprache des Titels:
Englisch
Journal:
Journal of Applied Physics
Volume:
91
Number:
11
Seitenreferenz:
8974?8978
Erscheinungsmonat:
6
Erscheinungsjahr:
2002
Notiz zum Zitat:
T. Roch, M. Meduna, J. Stangl, A. Hesse, R. Lechner, G. Bauer, G. Dehlinger, L. Diehl, U. Gennser, E. Müller, D. Grützmacher: Interface roughness in SiGe quantum-cascade structures from x-ray reflectivity studies, J. Appl. Phys. 91, 8974-8978 (2002).
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