Kurt Hingerl, Raoul E. Balderas-Navarro, Alberta Bonanni, P. Tichopadek, W. G. Schmidt,
"On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon"
, in Applied Surface Science, Vol. 175-176, Seite(n) 769-776, 5-2001, K. Hingerl, R.E. Balderas-Navarro, A. Bonanni, P. Tichopadek, W.G. Schmidt: On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon Appl. Surf. Sci. 175, 769 (2001)
Original Titel:
On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon
Sprache des Titels:
Englisch
Journal:
Applied Surface Science
Volume:
175-176
Seitenreferenz:
769-776
Erscheinungsmonat:
5
Erscheinungsjahr:
2001
Notiz zum Zitat:
K. Hingerl, R.E. Balderas-Navarro, A. Bonanni, P. Tichopadek, W.G. Schmidt: On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon Appl. Surf. Sci. 175, 769 (2001)