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"On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon"
, 2001, K. Hingerl, R.E. Balderas-Navarro, A. Bonanni, P. Tichopadek, W.G. Schmidt: On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon Appl. Surf. Sci. 175, 769 (2001)
Original Titel:
On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon
Sprache des Titels:
Englisch
Englischer Titel:
On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon
Erscheinungsjahr:
2001
Notiz zum Zitat:
K. Hingerl, R.E. Balderas-Navarro, A. Bonanni, P. Tichopadek, W.G. Schmidt: On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon Appl. Surf. Sci. 175, 769 (2001)
Publikationstyp:
Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift