Publikationsdetails

Zitat:	, "On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon" , 2001, K. Hingerl, R.E. Balderas-Navarro, A. Bonanni, P. Tichopadek, W.G. Schmidt: On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon Appl. Surf. Sci. 175, 769 (2001)
Original Titel:	On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon
Erscheinungsjahr:	2001
Notiz zum Zitat:	K. Hingerl, R.E. Balderas-Navarro, A. Bonanni, P. Tichopadek, W.G. Schmidt: On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon Appl. Surf. Sci. 175, 769 (2001)
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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