Publikationsdetails

Zitat:	Kurt Hingerl, Raoul E. Balderas-Navarro, Alberta Bonanni, P. Tichopadek, W. G. Schmidt, "On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon" , in Applied Surface Science, Vol. 175-176, Seite(n) 769-776, 5-2001, K. Hingerl, R.E. Balderas-Navarro, A. Bonanni, P. Tichopadek, W.G. Schmidt: On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon Appl. Surf. Sci. 175, 769 (2001)
Original Titel:	On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Applied Surface Science
Volume:	175-176
Seitenreferenz:	769-776
Erscheinungsmonat:	5
Erscheinungsjahr:	2001
Notiz zum Zitat:	K. Hingerl, R.E. Balderas-Navarro, A. Bonanni, P. Tichopadek, W.G. Schmidt: On the origin of resonance features in reflectance difference spectroscopy data of Silicon Appl. Surf. Sci. 175, 769 (2001)
Anzahl der Seiten:	8
DOI:	10.1016/S0169-4332(01)00114-3
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Kurt Hingerl, Raoul E. Balderas-Navarro, Alberta Bonanni, P. Tichopadek, W. G. Schmidt
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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