Publikationsdetails

Zitat:	Franz Köck, "Investigation on the morphology of MBE-grown epilayer using AFM and STM" , 1999, Franz Köck: Investigation on the morphology of MBE-grown epilayer using AFM and STM, Diploma work Johannes Kepler University 1999
Original Titel:	Investigation on the morphology of MBE-grown epilayer using AFM and STM
Sprache des Titels:	Englisch
Erscheinungsjahr:	1999
Notiz zum Zitat:	Franz Köck: Investigation on the morphology of MBE-grown epilayer using AFM and STM, Diploma work Johannes Kepler University 1999
Publikationstyp:	Diplom- oder Masterarbeit
Autoren:	Franz Köck
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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