Publikationsdetails

Zitat:	Harald Sander, "Oberflächenanalysen und Charakterisierung von SiGe-Proben" , 1999, Harald Sander: Oberflächenanalysen und Charakterisierung von SiGe-Proben, Diploma work Johannes Kepler University 1999
Original Titel:	Oberflächenanalysen und Charakterisierung von SiGe-Proben
Sprache des Titels:	Deutsch
Erscheinungsjahr:	1999
Notiz zum Zitat:	Harald Sander: Oberflächenanalysen und Charakterisierung von SiGe-Proben, Diploma work Johannes Kepler University 1999
Publikationstyp:	Diplom- oder Masterarbeit
Autoren:	Harald Sander
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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