Publikationsdetails

Zitat:	Julian Stangl, "Structural characterization of Si1-x/Gex/Si and Si1-yCy/Si heterostructures by high resolution X-Ray diffractrometry" , 1996, Julian Stangl: Structural characterization of Si1-x/Gex/Si and Si1-yCy/Si heterostructures by high resolution X-Ray diffractrometry, Diploma work Johannes Kepler University 1996
Original Titel:	Structural characterization of Si1-x/Gex/Si and Si1-yCy/Si heterostructures by high resolution X-Ray diffractrometry
Sprache des Titels:	Englisch
Erscheinungsjahr:	1996
Notiz zum Zitat:	Julian Stangl: Structural characterization of Si1-x/Gex/Si and Si1-yCy/Si heterostructures by high resolution X-Ray diffractrometry, Diploma work Johannes Kepler University 1996
Publikationstyp:	Diplom- oder Masterarbeit
Autoren:	Julian Stangl
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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