Publikationsdetails

Zitat:	Günter Schagerl, "Determination of contamination in silicon wafers with with the electrolytic metal tracer" , 1996, Günter Schagerl: Determination of contamination in silicon wafers with with the electrolytic metal tracer, Diploma work Johannes Kepler University 1996
Original Titel:	Determination of contamination in silicon wafers with with the electrolytic metal tracer
Sprache des Titels:	Englisch
Erscheinungsjahr:	1996
Notiz zum Zitat:	Günter Schagerl: Determination of contamination in silicon wafers with with the electrolytic metal tracer, Diploma work Johannes Kepler University 1996
Publikationstyp:	Diplom- oder Masterarbeit
Autoren:	Günter Schagerl
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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