X-ray diffraction and reflectivity on SiGe quantum cascade structures
Sprache des Titels:
Englisch
Journal:
Applied Physics Letters
Erscheinungsjahr:
2001
Notiz zum Zitat:
T. Roch, M. Meduna, J. Stangl, A. Daniel, R. Lechner, G. Bauer, G. Dehlinger, L. Diehl, U. Gennser, D. Grützmacher: "X-ray diffraction and reflectivity on SiGe quantum cascade structures", Appl. Phys. Lett., submitted.
Reichweite:
international
Publikationstyp:
Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift