Publikationsdetails

Zitat:	G. Abstreiter, Günther Bauer, K. Brunner, A. Daniel, Vaclav Holy, Till Hartmut Metzger, T. Roch, Julian Stangl, Y.H. Zhu, "Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of self-organized SiGe-wires" , in Physical Review B, 2001, V. Holy, T. Roch, J. Stangl, A. Daniel, G. Bauer, T.H. Metzger, Y.H. Zhu, K. Brunner, G. Abstreiter: Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of self-organized SiGe-wires, Phys. Rev. B. 63, 205318 (2001).
Original Titel:	Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of self-organized SiGe-wires
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Physical Review B
Erscheinungsjahr:	2001
Notiz zum Zitat:	V. Holy, T. Roch, J. Stangl, A. Daniel, G. Bauer, T.H. Metzger, Y.H. Zhu, K. Brunner, G. Abstreiter: Grazing incidence small-angle x-ray scattering study of self-organized SiGe-wires, Phys. Rev. B. 63, 205318 (2001).
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	G. Abstreiter, Günther Bauer, K. Brunner, A. Daniel, Vaclav Holy, Till Hartmut Metzger, T. Roch, Julian Stangl, Y.H. Zhu
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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