Publikationsdetails

Zitat:	H. Krenn, Wolfgang M rzinger, "Simultane Temperatur- und Schichtdickenmessung mit Infrarot-Strahlung" : Firmenband "Optische Meßtechnik für industrielle Schichten", 2000, H. Krenn, W. Märzinger: Simultane Temperatur- und Schichtdickenmessung mit Infrarot-Strahlung, Firmenband "Optische Meßtechnik für industrielle Schichten", Profactor GmbH, Steyr (2000).
Original Titel:	Simultane Temperatur- und Schichtdickenmessung mit Infrarot-Strahlung
Sprache des Titels:	Englisch
Original Buchtitel:	Firmenband "Optische Meßtechnik für industrielle Schichten"
Erscheinungsjahr:	2000
Notiz zum Zitat:	H. Krenn, W. Märzinger: Simultane Temperatur- und Schichtdickenmessung mit Infrarot-Strahlung, Firmenband "Optische Meßtechnik für industrielle Schichten", Profactor GmbH, Steyr (2000).
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in Sammelwerk (nicht-referiert)
Autoren:	H. Krenn, Wolfgang M rzinger
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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