Publikationsdetails

Zitat:	David Stifter, Alberta Bonanni, M. Garcia-Rocha, M. Schmid, Kurt Hingerl, Helmut Sitter, "In situ reflectance difference spectroscopy of p-type ZnTe:N grown by MBE" , in Thin Solid Films, Vol. 373, Nummer 1-2, Seite(n) 41-45, 9-2000, D. Stifter, A. Bonanni, M. Garcia-Rocha, M. Schmid, K. Hingerl, H. Sitter In situ reflectance difference spectroscopy of p-type ZnTe:N grown by MBE Thin Solid Films 373, 41 (2000)
Original Titel:	In situ reflectance difference spectroscopy of p-type ZnTe:N grown by MBE
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Thin Solid Films
Volume:	373
Number:	1-2
Seitenreferenz:	41-45
Erscheinungsmonat:	9
Erscheinungsjahr:	2000
Notiz zum Zitat:	D. Stifter, A. Bonanni, M. Garcia-Rocha, M. Schmid, K. Hingerl, H. Sitter In situ reflectance difference spectroscopy of p-type ZnTe:N grown by MBE Thin Solid Films 373, 41 (2000)
Anzahl der Seiten:	5
DOI:	10.1016/S0040-6090(00)01089-0
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	David Stifter, Alberta Bonanni, M. Garcia-Rocha, M. Schmid, Kurt Hingerl, Helmut Sitter
Forschungseinheiten:	Abteilung für Festkörperphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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