Publikationsdetails

Zitat:	W. Göttlich, Johannes David Pedarnig, W.M. Heckl, "Noncontact scanning force microscopy based on a modified tuning fork sensor" , in Review of Scientific Instruments, Vol. 71, Nummer 8, Seite(n) 3104-3107, 2000
Original Titel:	Noncontact scanning force microscopy based on a modified tuning fork sensor
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	Noncontact scanning force microscopy based on a modified tuning fork sensor
Journal:	Review of Scientific Instruments
Volume:	71
Number:	8
Seitenreferenz:	3104-3107
Erscheinungsjahr:	2000
Anzahl der Seiten:	4
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in SCI-Expanded-Zeitschrift
Autoren:	W. Göttlich, Johannes David Pedarnig, W.M. Heckl
Forschungseinheiten:	Institut für Angewandte Physik

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