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Zitat: Rafal Jakiela, Marta Galicka, Piotr Dziawa, Gunther Springholz, Adam Barcz, "SIMS accurate determination of matrix composition of topological crystalline insulator material Pb1?xSnxSe" , in Surface and Interface Analysis, Vol. 52, Wiley, Seite(n) 71-75, 2020, ISSN: 1096-9918
Original Titel: SIMS accurate determination of matrix composition of topological crystalline insulator material Pb1?xSnxSe
Sprache des Titels: Englisch
Journal: Surface and Interface Analysis
Veröffentlicher: Wiley
Volume: 52
Seitenreferenz: 71-75
Erscheinungsjahr: 2020
ISSN: 1096-9918
Anzahl der Seiten: 5
DOI: 10.1002/sia.6705
Reichweite: international
Publikationstyp: Aufsatz / Paper in SCI-Expanded-Zeitschrift
Autoren: Rafal Jakiela, Marta Galicka, Piotr Dziawa, Gunther Springholz, Adam Barcz
Forschungseinheiten: Abteilung für Halbleiterphysik
Wissenschaftsgebiete: Physik, Astronomie (ÖSTAT:103)
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