Publikationsdetails

Zitat:	V. Solokha, Tien-Lin Lee, Wilson Axel, Kurt Hingerl, Jörg Zegenhagen, "Effective attenuation length of keV photoelectrons in silicon measured by transmission through thin membranes" , in Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena, Vol. 225, Seite(n) 228-235, 5-2018, ISSN: 1873-2526
Original Titel:	Effective attenuation length of keV photoelectrons in silicon measured by transmission through thin membranes
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
Volume:	225
Seitenreferenz:	228-235
Erscheinungsmonat:	5
Erscheinungsjahr:	2018
ISSN:	1873-2526
Anzahl der Seiten:	8
DOI:	10.1016/j.elspec.2018.03.003
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in SCI-Expanded-Zeitschrift
Autoren:	V. Solokha, Tien-Lin Lee, Wilson Axel, Kurt Hingerl, Jörg Zegenhagen
Forschungseinheiten:	Zentrum für Oberflächen- und Nanoanalytik

Wissenschaftsgebiete:	Physik, Astronomie (ÖSTAT:103) Oberflächenphysik (ÖSTAT:103020) Optik (ÖSTAT:103021) Nanotechnologie (ÖSTAT:210006)

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