Publikationsdetails

Zitat:	Günther Bauer, Gunther Springholz, ""Study of misfit-dislocation formation in strained-layer heteroepitaxy using UHV-scanning tunneling microscopy"" , 1996, ISBN: 0921-5107, G. Springholz, G. Bauer: "Study of misfit-dislocation formation in strained-layer heteroepitaxy using UHV-scanning tunneling microscopy", Materials Science and Engineering B37, 96-100 (1996), ISSN-Number 0921-5107
Original Titel:	"Study of misfit-dislocation formation in strained-layer heteroepitaxy using UHV-scanning tunneling microscopy"
Sprache des Titels:	Englisch
Englischer Titel:	Study of misfit-dislocation formation in strained-layer heteroepitaxy using UHV-scanning tunneling microscopy
Erscheinungsjahr:	1996
Notiz zum Zitat:	G. Springholz, G. Bauer: "Study of misfit-dislocation formation in strained-layer heteroepitaxy using UHV-scanning tunneling microscopy", Materials Science and Engineering B37, 96-100 (1996), ISSN-Number 0921-5107
ISBN:	0921-5107
Anzahl der Seiten:	0
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in sonstiger referierter Fachzeitschrift
Autoren:	Günther Bauer, Gunther Springholz
Forschungseinheiten:	Abteilung für Halbleiterphysik Institut für Halbleiter- und Festkörperphysik

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