Publikationsdetails

Zitat:	E.G. Bortchagovsky, V.Z. Lozovski, T.O. Mishakova, Kurt Hingerl, "Experimental examination of films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate by ellipsometry" , in Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics, Vol. 15, Seite(n) 360-364, 2012, ISSN: 1605-6582
Original Titel:	Experimental examination of films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate by ellipsometry
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Volume:	15
Seitenreferenz:	360-364
Erscheinungsjahr:	2012
ISSN:	1605-6582
Anzahl der Seiten:	5
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in SCI-Expanded-Zeitschrift
Autoren:	E.G. Bortchagovsky, V.Z. Lozovski, T.O. Mishakova, Kurt Hingerl
Forschungseinheiten:	Zentrum für Oberflächen- und Nanoanalytik

Wissenschaftsgebiete:	Physik, Mechanik, Astronomie (ÖSTAT:12)

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