Dominik Gruber, Timm Ostermann,
"Zwei-Punkt Kalibrierung einer On-Chip Spannungsreferenz im Fertigungstest"
: 24. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, 2012
Original Titel:
Zwei-Punkt Kalibrierung einer On-Chip Spannungsreferenz im Fertigungstest
Sprache des Titels:
Deutsch
Original Buchtitel:
24. GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen