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Zitat: Alberta Bonanni, "(Nano)characterization of semiconductor materials and structures" , in Semiconductor Science and Technology, Vol. 26, Seite(n) 060301, 6-2011, ISSN: 0268-1242
Original Titel: (Nano)characterization of semiconductor materials and structures
Sprache des Titels: Englisch
Journal: Semiconductor Science and Technology
Volume: 26
Seitenreferenz: 060301
Erscheinungsmonat: 6
Erscheinungsjahr: 2011
ISSN: 0268-1242
Anzahl der Seiten: 1
DOI: 10.1088/0268-1242/26/6/060301
Reichweite: international
Publikationstyp: Aufsatz / Paper in SCI-Expanded-Zeitschrift
Autoren: Alberta Bonanni
Forschungseinheiten: Abteilung für Festkörperphysik
Wissenschaftsgebiete: Festkörperphysik (ÖSTAT:1210)
Optik (ÖSTAT:1213)
Halbleiterphysik (ÖSTAT:1229)
Metallphysik (ÖSTAT:1231)
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