Publikationsdetails

Zitat:	Dieter wagner, P. Irsigler, D.J. Dunstan, "The Staebler-Wronski Effect and the Meyer-Neldel Rule in Amorphous Silicon" , in Journal of Non-Crystalline Solids, Vol. 59 & 60, Seite(n) 413, 1983, ISSN: 1873-4812
Original Titel:	The Staebler-Wronski Effect and the Meyer-Neldel Rule in Amorphous Silicon
Sprache des Titels:	Englisch
Journal:	Journal of Non-Crystalline Solids
Volume:	59 & 60
Seitenreferenz:	413
Erscheinungsjahr:	1983
ISSN:	1873-4812
Anzahl der Seiten:	5
DOI:	10.1016/0022-3093(83)90608-7
Reichweite:	international
Publikationstyp:	Aufsatz / Paper in SCI-Expanded-Zeitschrift
Autoren:	Dieter wagner, P. Irsigler, D.J. Dunstan
Forschungseinheiten:	Institut für Angewandte Physik

Wissenschaftsgebiete:	Angewandte Physik (ÖSTAT:1203) Experimentalphysik (ÖSTAT:1209) Optik (ÖSTAT:1213) Laserphysik (ÖSTAT:1230) Laserspektroskopie (ÖSTAT:1237) Oberflächenphysik (ÖSTAT:1238) Polymerphysik (ÖSTAT:1239)

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